Hochschulschrift
Low temperature silicon epitaxy : defects and electronic properties
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783832218072
3832218076
- Maße
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21 cm
- Umfang
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XIII, 130 S.
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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Ill., graph. Darst.
Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2003
- Schlagwort
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Epitaxie
Ionenstrahl
Niedrigtemperatur
Silicium
Schichtwachstum
Epitaxieschicht
Silicon
Silicium ; Epitaxie ; Niedrigtemperatur ; elektronische Eigenschaft
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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- Letzte Aktualisierung
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11.03.2025, 11:39 MEZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Wagner, Thomas
- Shaker
Entstanden
- 2003