Overcoming diffusion-related limitations in semiconductor defect imaging with phonon-plasmon-coupled mode Raman scattering

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISSN
2047-7538
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
online resource.

Erschienen in
Overcoming diffusion-related limitations in semiconductor defect imaging with phonon-plasmon-coupled mode Raman scattering ; volume:7 ; number:1 ; day:20 ; month:6 ; year:2018 ; pages:1-8 ; date:12.2018
Light ; 7, Heft 1 (20.6.2018), 1-8, 12.2018

Klassifikation
Physik

Urheber
Hu, Changkui
Beteiligte Personen und Organisationen
Chen, Qiong
Chen, Fengxiang
Gfroerer, T. H.
Wanlass, M. W.
Zhang, Yong
SpringerLink (Online service)

DOI
10.1038/s41377-018-0016-y
URN
urn:nbn:de:101:1-2018082500243303277264
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:24 MESZ

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Beteiligte

  • Hu, Changkui
  • Chen, Qiong
  • Chen, Fengxiang
  • Gfroerer, T. H.
  • Wanlass, M. W.
  • Zhang, Yong
  • SpringerLink (Online service)

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