Test- und Prüfverfahren in der Elektronikfertigung : vom Arbeitsprinzip bis Design-for-Test-Regeln
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783800732333
- Maße
-
24 cm
- Umfang
-
250 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
Elektronische Baugruppe
Gedruckte Schaltung
Testbarkeit
Prüftechnik
Optische Messtechnik
Elektrische Messtechnik
Röntgenographie
Elektroniktechnologie
Verbindungstechnik
Fertigungsfehler
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Berlin, Offenbach
- (wer)
-
VDE-Verl.
- (wann)
-
2012
- Urheber
-
Berger, Mario
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:31 MESZ
Datenpartner
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Beteiligte
- Berger, Mario
- VDE-Verl.
Entstanden
- 2012
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