Towards Agile Standardization: Testbeds in Support of Standardization for the IIoT

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: IEEE Transactions on Engineering Management, S. 1-16

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin
(who)
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
(when)
2020
Creator
Koch, Claudia
Blind, Knut

DOI
10.1109/TEM.2020.2979697
URN
urn:nbn:de:kobv:b43-513300
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:42 PM CET

Data provider

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  • Koch, Claudia
  • Blind, Knut
  • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Time of origin

  • 2020

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