Hochschulschrift
Characterization and chemical recovery of plasma damaged porous low-k SiOCH dielectric for the semiconductor industry
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783839603697
3839603692
- Dimensions
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21 cm
- Extent
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161 S.
- Language
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Englisch
- Notes
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Ill., graph. Darst.
Zugl.: Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 2011
- Classification
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Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
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Low-k-Dielektrikum
Nanoporöser Stoff
Plasmaätzen
Schädigung
Silylierung
ULSI
Molekulardesign
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
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Stuttgart
- (who)
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Fraunhofer-Verl.
- (when)
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2012
- Creator
- Contributor
-
Fraunhofer CNT
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.06.2025, 1:41 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Oszinda, Thomas
- Fraunhofer CNT
- Fraunhofer-Verl.
Time of origin
- 2012