Hochschulschrift

Characterization and chemical recovery of plasma damaged porous low-k SiOCH dielectric for the semiconductor industry

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783839603697
3839603692
Dimensions
21 cm
Extent
161 S.
Language
Englisch
Notes
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 2011

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
Low-k-Dielektrikum
Nanoporöser Stoff
Plasmaätzen
Schädigung
Silylierung
ULSI
Molekulardesign

Event
Veröffentlichung
(where)
Stuttgart
(who)
Fraunhofer-Verl.
(when)
2012
Creator
Contributor
Fraunhofer CNT

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Last update
11.06.2025, 1:41 PM CEST

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Object type

  • Hochschulschrift

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Time of origin

  • 2012

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