Hochschulschrift

Characterization and chemical recovery of plasma damaged porous low-k SiOCH dielectric for the semiconductor industry

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783839603697
3839603692
Maße
21 cm
Umfang
161 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 2011

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Low-k-Dielektrikum
Nanoporöser Stoff
Plasmaätzen
Schädigung
Silylierung
ULSI
Molekulardesign

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Stuttgart
(wer)
Fraunhofer-Verl.
(wann)
2012
Urheber
Beteiligte Personen und Organisationen
Fraunhofer CNT

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:41 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 2012

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