Hochschulschrift
Optische Mikropotometrie und Rauheitsmessung an technischen Oberflächen
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783923560271
3923560273
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
XVI, 182 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 1996
- Bibliographic citation
-
Berichte aus dem Institut für Technische Optik / Universität Stuttgart ; 28
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 2:16 PM CEST
Data provider
This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Object type
- Hochschulschrift
Associated
Time of origin
- 1996
Other Objects (12)
Rastertunnelmikroskopie an technischen Oberflächen
Optische Vermessung partiell reflektierender Oberflächen
Optische Profilhöhenanalyse nano-strukturierter Oberflächen
Optische Prüfung mikroskopisch rauher Oberflächen
Clustersputtern an optischen Oberflächen
Optische 3D-Erfassung und Auswertung technischer Oberflächen hinsichtlich ihres Verschleißverhaltens
Multiple Sensorsysteme zur Topographiebestimmung optischer Oberflächen
Nichtlineare optische Suszeptibilität von Silizium-Oberflächen
Strukturierung optischer Oberflächen durch Diamant-Mikroschneiden
Optische Strukturierung von Oberflächen ohne Beugungsbeschränkung
Verfahren zur optischen 3D-Vermessung spiegelnder Oberflächen
Speckleinterferometrie zur Topografiebestimmung an optisch rauhen Oberflächen
Rastertunnelmikroskopie an technischen Oberflächen
Optische Vermessung partiell reflektierender Oberflächen
Optische Profilhöhenanalyse nano-strukturierter Oberflächen
Optische Prüfung mikroskopisch rauher Oberflächen
Clustersputtern an optischen Oberflächen
Optische 3D-Erfassung und Auswertung technischer Oberflächen hinsichtlich ihres Verschleißverhaltens
Multiple Sensorsysteme zur Topographiebestimmung optischer Oberflächen
Nichtlineare optische Suszeptibilität von Silizium-Oberflächen
Strukturierung optischer Oberflächen durch Diamant-Mikroschneiden
Optische Strukturierung von Oberflächen ohne Beugungsbeschränkung
Verfahren zur optischen 3D-Vermessung spiegelnder Oberflächen
Speckleinterferometrie zur Topografiebestimmung an optisch rauhen Oberflächen
Rastertunnelmikroskopie an technischen Oberflächen
Optische Vermessung partiell reflektierender Oberflächen
Optische Profilhöhenanalyse nano-strukturierter Oberflächen
Optische Prüfung mikroskopisch rauher Oberflächen
Clustersputtern an optischen Oberflächen
Optische 3D-Erfassung und Auswertung technischer Oberflächen hinsichtlich ihres Verschleißverhaltens
Multiple Sensorsysteme zur Topographiebestimmung optischer Oberflächen
Nichtlineare optische Suszeptibilität von Silizium-Oberflächen
Strukturierung optischer Oberflächen durch Diamant-Mikroschneiden
Optische Strukturierung von Oberflächen ohne Beugungsbeschränkung
Verfahren zur optischen 3D-Vermessung spiegelnder Oberflächen