Alterung von Leistungshalbleitermodulen im Temperatur-Feuchte-Spannungs-Test
- Weitere Titel
-
Degradation of semiconductor modules in the High Humidity High Temperature Reverse Bias (HA TRB) Test
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Bremen, Universität Bremen, Dissertation, 2019
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
Feuchtigkeit
Leistungshalbleiter
Elektrische Spannung
Alterung
Warentest
Abbruchreaktion
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Bremen
- (wer)
-
Staats- und Universitätsbibliothek Bremen
- (wann)
-
2019
- Urheber
-
Zorn, Christian
- Beteiligte Personen und Organisationen
-
Kaminski, Nando
Kaminski, Nando
Scheuermann, Uwe
- URN
-
urn:nbn:de:gbv:46-00107112-19
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
25.03.2025, 13:45 MEZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Beteiligte
- Zorn, Christian
- Kaminski, Nando
- Scheuermann, Uwe
- Staats- und Universitätsbibliothek Bremen
Entstanden
- 2019
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