- Alternative title
-
Degradation of semiconductor modules in the High Humidity High Temperature Reverse Bias (HA TRB) Test
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Bremen, Universität Bremen, Dissertation, 2019
- Classification
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
-
Feuchtigkeit
Leistungshalbleiter
Elektrische Spannung
Alterung
Warentest
Abbruchreaktion
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Bremen
- (who)
-
Staats- und Universitätsbibliothek Bremen
- (when)
-
2019
- Creator
-
Zorn, Christian
- Contributor
-
Kaminski, Nando
Kaminski, Nando
Scheuermann, Uwe
- URN
-
urn:nbn:de:gbv:46-00107112-19
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
25.03.2025, 1:45 PM CET
Data provider
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Associated
- Zorn, Christian
- Kaminski, Nando
- Scheuermann, Uwe
- Staats- und Universitätsbibliothek Bremen
Time of origin
- 2019
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