Hochschulschrift

Charakterisierung integriert-optischer Silizium-Wellenleiter

Weitere Titel
Characterizing integrated silicon waveguides
Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Hamburg-Harburg, Technische Universität, Diss., 2013

Klassifikation
Physik
Schlagwort
Wellenleiter
Raman-Effekt
Silicium
Photonik
Streifenwellenleiter
Silizium ; Wellenleiter ; Optik ; Kommunikationstechnik ; Messtechnik ; Integrierte Optik ; Photonik ; Reflektometrie ; Raman-Effekt

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hamburg-Harburg
(wer)
Universitätsbibliothek der Technischen Universität Hamburg-Harburg
(wann)
2013
Urheber
Müller, Jost
Beteiligte Personen und Organisationen

URN
urn:nbn:de:gbv:830-tubdok-12203
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:43 MEZ

Datenpartner

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Müller, Jost
  • Brinkmeyer, Ernst
  • Universitätsbibliothek der Technischen Universität Hamburg-Harburg

Entstanden

  • 2013

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