Hochschulschrift
Charakterisierung von Nanometerstrukturen mit III-V-Halbleitern : = (Characterisation of nanometer structures on III-V-semiconductor materials)
- Weitere Titel
-
(Characterisation of nanometer structures on III-V-semiconductor materials)
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783826565311
3826565312
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
VII, 177 S.
- Ausgabe
-
Als Ms. gedr.
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Darmstadt, Techn. Univ., Diss., 1999
- Schlagwort
-
Drei-Fünf-Halbleiter
Nanostruktur
Rastertunnelmikroskopie
Rasterkraftmikroskopie
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:06 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Ichizli, Victoria
- Shaker
Entstanden
- 1999
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