- Location
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                Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
 
- ISSN
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                2057-3960
 
- Extent
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                Online-Ressource
 
- Language
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                Englisch
 
- Notes
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                online resource.
 
- Bibliographic citation
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                Automated defect analysis in electron microscopic images ; volume:4 ; number:1 ; day:18 ; month:7 ; year:2018 ; pages:1-9 ; date:12.2018
npj computational materials ; 4, Heft 1 (18.7.2018), 1-9, 12.2018
 
- Classification
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                Physik
 
- Creator
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                Li, Wei
 
- Contributor
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                Field, Kevin G.
Morgan, Dane
SpringerLink (Online service)
 
- DOI
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                        10.1038/s41524-018-0093-8
 
- URN
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                        urn:nbn:de:101:1-2018092020450479721486
 
- Rights
 - 
                
                    
                        Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
 
- Last update
 - 
                
                    
                        15.08.2025, 7:33 AM CEST
 
Data provider
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Associated
- Li, Wei
 - Field, Kevin G.
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