Automated defect analysis in electron microscopic images

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISSN
2057-3960
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
online resource.

Erschienen in
Automated defect analysis in electron microscopic images ; volume:4 ; number:1 ; day:18 ; month:7 ; year:2018 ; pages:1-9 ; date:12.2018
npj computational materials ; 4, Heft 1 (18.7.2018), 1-9, 12.2018

Klassifikation
Physik

Urheber
Li, Wei
Beteiligte Personen und Organisationen
Field, Kevin G.
Morgan, Dane
SpringerLink (Online service)

DOI
10.1038/s41524-018-0093-8
URN
urn:nbn:de:101:1-2018092020450479721486
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:33 MESZ

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Beteiligte

  • Li, Wei
  • Field, Kevin G.
  • Morgan, Dane
  • SpringerLink (Online service)

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