Radiative Recombination and Carrier Injection Efficiencies in 265 nm Deep Ultraviolet Light‐Emitting Diodes Grown on AlN/Sapphire Templates with Different Defect Densities

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: physica status solidi (a) (220:16) - New York, NY : Wiley - Art.-Id. 2200458 - S. -

Classification
Elektrotechnik, Elektronik

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin
(who)
Technische Universität Berlin
(when)
2023
Creator
Muhin, Anton
Guttmann, Martin
Montag, Verena
Susilo, Norman
Ziffer, Eviathar
Sulmoni, Luca
Hagedorn, Sylvia
Lobo Ploch, Neysha
Rass, Jens
Cancellara, Leonardo
Wu, Shaojun
Wernicke, Tim
Kneissl, Michael

DOI
10.14279/depositonce-19077
Handle
11303/20279
URN
urn:nbn:de:101:1-2023111501005449097917
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 10:00 AM CEST

Data provider

This object is provided by:
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Time of origin

  • 2023

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