Radiative Recombination and Carrier Injection Efficiencies in 265 nm Deep Ultraviolet Light‐Emitting Diodes Grown on AlN/Sapphire Templates with Different Defect Densities
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Englisch
- Bibliographic citation
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In: physica status solidi (a) (220:16) - New York, NY : Wiley - Art.-Id. 2200458 - S. -
- Classification
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Elektrotechnik, Elektronik
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
-
Berlin
- (who)
-
Technische Universität Berlin
- (when)
-
2023
- Creator
-
Muhin, Anton
Guttmann, Martin
Montag, Verena
Susilo, Norman
Ziffer, Eviathar
Sulmoni, Luca
Hagedorn, Sylvia
Lobo Ploch, Neysha
Rass, Jens
Cancellara, Leonardo
Wu, Shaojun
Wernicke, Tim
Kneissl, Michael
- DOI
-
10.14279/depositonce-19077
- Handle
-
11303/20279
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2023111501005449097917
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
14.08.2025, 10:00 AM CEST
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Muhin, Anton
- Guttmann, Martin
- Montag, Verena
- Susilo, Norman
- Ziffer, Eviathar
- Sulmoni, Luca
- Hagedorn, Sylvia
- Lobo Ploch, Neysha
- Rass, Jens
- Cancellara, Leonardo
- Wu, Shaojun
- Wernicke, Tim
- Kneissl, Michael
- Technische Universität Berlin
Time of origin
- 2023