Radiative Recombination and Carrier Injection Efficiencies in 265 nm Deep Ultraviolet Light‐Emitting Diodes Grown on AlN/Sapphire Templates with Different Defect Densities

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: physica status solidi (a) (220:16) - New York, NY : Wiley - Art.-Id. 2200458 - S. -

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin
(wer)
Technische Universität Berlin
(wann)
2023
Urheber
Muhin, Anton
Guttmann, Martin
Montag, Verena
Susilo, Norman
Ziffer, Eviathar
Sulmoni, Luca
Hagedorn, Sylvia
Lobo Ploch, Neysha
Rass, Jens
Cancellara, Leonardo
Wu, Shaojun
Wernicke, Tim
Kneissl, Michael

DOI
10.14279/depositonce-19077
Handle
11303/20279
URN
urn:nbn:de:101:1-2023111501005449097917
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 11:00 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

Entstanden

  • 2023

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