Hochschulschrift
Untersuchung der Festkörperdiffussion in Nanometer-Schichtproben mit dem Feldionenmikroskop mit Atomsonde
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783826509872
3826509870
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
VIII, 109 S.
- Ausgabe
-
Als Ms. gedr.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1995
- Schlagwort
-
Nickel
Kupfer
Mehrschichtsystem
Diffusionskoeffizient
Feldionenmikroskop
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Aachen
- (wer)
-
Shaker
- (wann)
-
1995
- Urheber
-
Keilonat, Christian
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:22 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Keilonat, Christian
- Shaker
Entstanden
- 1995
Ähnliche Objekte (12)
Elektrische Werkstückantastung für Nanometer aufgelöste Oberflächen- und Koordinatenmesstechnik
Characterization of micro- and nanometer resolved technical surfaces with function-oriented parameters : = Charakterisierung von Mikro- und Nanometer aufgelösten technischen Oberflächen mit funktionsorientierten Kenngrößen
Partikelgrößen-Messung im Nanometer-Bereich mit Hilfe der Photonen-Korrelations-Spektroskopie
Charakterisierung von Nanometerstrukturen mit III-V-Halbleitern : = (Characterisation of nanometer structures on III-V-semiconductor materials)
Untersuchungen der chemischen Bindung mit Hilfe der Elektronen-Lokalisierungs-Funktion (ELF) unter Verwendung moderner Visualisierungswerkzeuge, Buch.
Atmosphärische Photoionisation mit Nanometer-Samarium-Elektronemitterschichten
Atmosphärische Photoionisation mit Nanometer-Samarium-Elektronemitterschichten
Untersuchungen zur flexiblen Blechumformung mit Laserstrahlung
Aeroelastische Untersuchung eines Windrotorblattes mit Wölbklappen
Untersuchung ferroelektrischer Kristalle mit dem Rasterkraftmikroskop
Untersuchungen an binären Mischungen mit Mischungslücke
Untersuchungen zum Räumen mit Feinstkornhartmetall und Cermet
Elektrische Werkstückantastung für Nanometer aufgelöste Oberflächen- und Koordinatenmesstechnik
Characterization of micro- and nanometer resolved technical surfaces with function-oriented parameters : = Charakterisierung von Mikro- und Nanometer aufgelösten technischen Oberflächen mit funktionsorientierten Kenngrößen
Partikelgrößen-Messung im Nanometer-Bereich mit Hilfe der Photonen-Korrelations-Spektroskopie
Charakterisierung von Nanometerstrukturen mit III-V-Halbleitern : = (Characterisation of nanometer structures on III-V-semiconductor materials)
Untersuchungen der chemischen Bindung mit Hilfe der Elektronen-Lokalisierungs-Funktion (ELF) unter Verwendung moderner Visualisierungswerkzeuge, Buch.
Atmosphärische Photoionisation mit Nanometer-Samarium-Elektronemitterschichten
Atmosphärische Photoionisation mit Nanometer-Samarium-Elektronemitterschichten
Untersuchungen zur flexiblen Blechumformung mit Laserstrahlung
Aeroelastische Untersuchung eines Windrotorblattes mit Wölbklappen
Untersuchung ferroelektrischer Kristalle mit dem Rasterkraftmikroskop
Untersuchungen an binären Mischungen mit Mischungslücke
Untersuchungen zum Räumen mit Feinstkornhartmetall und Cermet
Elektrische Werkstückantastung für Nanometer aufgelöste Oberflächen- und Koordinatenmesstechnik
Characterization of micro- and nanometer resolved technical surfaces with function-oriented parameters : = Charakterisierung von Mikro- und Nanometer aufgelösten technischen Oberflächen mit funktionsorientierten Kenngrößen
Partikelgrößen-Messung im Nanometer-Bereich mit Hilfe der Photonen-Korrelations-Spektroskopie
Charakterisierung von Nanometerstrukturen mit III-V-Halbleitern : = (Characterisation of nanometer structures on III-V-semiconductor materials)
Untersuchungen der chemischen Bindung mit Hilfe der Elektronen-Lokalisierungs-Funktion (ELF) unter Verwendung moderner Visualisierungswerkzeuge, Buch.
Atmosphärische Photoionisation mit Nanometer-Samarium-Elektronemitterschichten
Atmosphärische Photoionisation mit Nanometer-Samarium-Elektronemitterschichten
Untersuchungen zur flexiblen Blechumformung mit Laserstrahlung
Aeroelastische Untersuchung eines Windrotorblattes mit Wölbklappen
Untersuchung ferroelektrischer Kristalle mit dem Rasterkraftmikroskop
Untersuchungen an binären Mischungen mit Mischungslücke