Prüfgerechter Entwurf und Test hochintegrierter Schaltungen

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Deutsch

Bibliographic citation
In: Informatik-Spektrum 15 (1992), S. 23-32

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
Selbsttest ; Fehlermodell ; LSI

Event
Veröffentlichung
(where)
Stuttgart
(who)
Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
(when)
2012
Creator
Wunderlich, Hans-Joachim
Schulz, Michael H.

URN
urn:nbn:de:bsz:93-opus-73011
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
15.08.2025, 7:39 AM CEST

Data provider

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Time of origin

  • 2012

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