Prüfgerechter Entwurf und Test hochintegrierter Schaltungen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Deutsch

Erschienen in
In: Informatik-Spektrum 15 (1992), S. 23-32

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Selbsttest ; Fehlermodell ; LSI

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Stuttgart
(wer)
Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
(wann)
2012
Urheber
Wunderlich, Hans-Joachim
Schulz, Michael H.

URN
urn:nbn:de:bsz:93-opus-73011
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:39 MESZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Beteiligte

Entstanden

  • 2012

Ähnliche Objekte (12)