Scanning probe investigations of morphology of new p-type material for organic field-effect transistors

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
Scanning probe investigations of morphology of new p-type material for organic field-effect transistors ; 2005, 10, S. 70-73
Wissenschaftliche Beiträge ; 2005, 10, S. 70-73

Classification
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

Creator
Tudose, Ovidiu-Gelu
Schrader, Sigurd
Thiem, Heiko

URN
urn:nbn:de:kobv:526-opus4-4263
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 11:01 AM CEST

Data provider

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  • Tudose, Ovidiu-Gelu
  • Schrader, Sigurd
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