Scanning probe investigations of morphology of new p-type material for organic field-effect transistors
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
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Online-Ressource
- Language
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Englisch
- Bibliographic citation
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Scanning probe investigations of morphology of new p-type material for organic field-effect transistors ; 2005, 10, S. 70-73
Wissenschaftliche Beiträge ; 2005, 10, S. 70-73
- Classification
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Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
- Creator
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Tudose, Ovidiu-Gelu
Schrader, Sigurd
Thiem, Heiko
- URN
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urn:nbn:de:kobv:526-opus4-4263
- Rights
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
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14.08.2025, 11:01 AM CEST
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Tudose, Ovidiu-Gelu
- Schrader, Sigurd
- Thiem, Heiko