Hochschulschrift

Hierarchische Mehr-Ebenen-Fehlersimulation mit Modellen der Schalter-Ebene

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
21 cm
Umfang
141 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
graph. Darst.
Paderborn, Univ., Diss., 1994

Schlagwort
CMOS-Schaltung
Testmustergenerierung
Fehlersimulation
Mehrebenensimulation

Urheber
Meyer, Wolfgang

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:40 MESZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Meyer, Wolfgang

Ähnliche Objekte (12)