Hochschulschrift
Hierarchische Mehr-Ebenen-Fehlersimulation mit Modellen der Schalter-Ebene
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
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21 cm
- Umfang
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141 S.
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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graph. Darst.
Paderborn, Univ., Diss., 1994
- Schlagwort
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CMOS-Schaltung
Testmustergenerierung
Fehlersimulation
Mehrebenensimulation
- Urheber
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Meyer, Wolfgang
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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- Letzte Aktualisierung
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11.06.2025, 13:40 MESZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Meyer, Wolfgang