Hochschulschrift

Hierarchische Mehr-Ebenen-Fehlersimulation mit Modellen der Schalter-Ebene

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
21 cm
Extent
141 S.
Language
Deutsch
Notes
graph. Darst.
Paderborn, Univ., Diss., 1994

Keyword
CMOS-Schaltung
Testmustergenerierung
Fehlersimulation
Mehrebenensimulation

Creator
Meyer, Wolfgang

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Last update
11.06.2025, 1:40 PM CEST

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Object type

  • Hochschulschrift

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  • Meyer, Wolfgang

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