Hochschulschrift
Charakterisierung von Siliciumoberflächen mittels Röntgenfluoreszenzanalyse unter Totalreflexionsbedingungen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783826510267
3826510267
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
127 S.
- Ausgabe
-
Als Ms. gedr.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Nürnberg, Erlangen, Univ., Diss., 1995
- Erschienen in
-
Erlanger Berichte Mikroelektronik ; Bd. 95,3
- Schlagwort
-
Silicium
Halbleiteroberfläche
Röntgenfluoreszenzspektroskopie
Totalreflexion
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Aachen
- (wer)
-
Shaker
- (wann)
-
1995
- Urheber
-
Streckfuss, Norbert
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:49 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Streckfuss, Norbert
- Shaker
Entstanden
- 1995
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