Hochschulschrift
Charakterisierung von Siliciumoberflächen mittels Röntgenfluoreszenzanalyse unter Totalreflexionsbedingungen
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783826510267
3826510267
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
127 S.
- Edition
-
Als Ms. gedr.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Nürnberg, Erlangen, Univ., Diss., 1995
- Bibliographic citation
-
Erlanger Berichte Mikroelektronik ; Bd. 95,3
- Keyword
-
Silicium
Halbleiteroberfläche
Röntgenfluoreszenzspektroskopie
Totalreflexion
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Aachen
- (who)
-
Shaker
- (when)
-
1995
- Creator
-
Streckfuss, Norbert
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 1:49 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Streckfuss, Norbert
- Shaker
Time of origin
- 1995
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