Hochschulschrift
Frequenz- und Kohärenzbereichsreflektometrie : optische Messverfahren zur Charakterisierung passiver und aktiver Wellenleiter
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
164 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Hamburg-Harburg, Techn. Univ., Diss., 1993
- Schlagwort
-
Lichtwellenleiter
Integrierte Optik
Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung
Reflektometrie
Auflösungsvermögen
Nanometerbereich
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 12:09 MEZ
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Objekttyp
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