Hochschulschrift
Frequenz- und Kohärenzbereichsreflektometrie : optische Messverfahren zur Charakterisierung passiver und aktiver Wellenleiter
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
164 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Hamburg-Harburg, Techn. Univ., Diss., 1993
- Keyword
-
Lichtwellenleiter
Integrierte Optik
Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung
Reflektometrie
Auflösungsvermögen
Nanometerbereich
- Creator
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.03.2025, 12:09 PM CET
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