Scanning probe microscopy studies of nanoscale effects in HfO$_\mathrmx}$-based resistive switching systems
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Englisch
- Notes
-
RWTH Aachen University, Dissertation, 2024
- Keyword
-
Rastersondenmikroskopie
Rasterkraftmikroskopie
Kristallfläche
Nanostrukturiertes Material
Rastertunnelmikroskopie
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Aachen
- (who)
-
Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
- (when)
-
2024
- Creator
-
Schmidt, Niclas
- Contributor
- DOI
-
10.18154/RWTH-2025-00387
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2503010044533.156502921856
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
15.08.2025, 7:24 AM CEST
Data provider
This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
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Associated
- Schmidt, Niclas
- Mayer, Joachim
- Dittmann, Regina
- Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Time of origin
- 2024
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