Scanning probe microscopy studies of nanoscale effects in HfO$_\mathrmx}$-based resistive switching systems
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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RWTH Aachen University, Dissertation, 2024
- Schlagwort
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Rastersondenmikroskopie
Rasterkraftmikroskopie
Kristallfläche
Nanostrukturiertes Material
Rastertunnelmikroskopie
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Aachen
- (wer)
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Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
- (wann)
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2024
- Urheber
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Schmidt, Niclas
- Beteiligte Personen und Organisationen
- DOI
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10.18154/RWTH-2025-00387
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2503010044533.156502921856
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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15.08.2025, 07:24 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Schmidt, Niclas
- Mayer, Joachim
- Dittmann, Regina
- Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Entstanden
- 2024