Scanning probe microscopy studies of nanoscale effects in HfO$_\mathrmx}$-based resistive switching systems

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
RWTH Aachen University, Dissertation, 2024

Schlagwort
Rastersondenmikroskopie
Rasterkraftmikroskopie
Kristallfläche
Nanostrukturiertes Material
Rastertunnelmikroskopie

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Aachen
(wer)
Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
(wann)
2024
Urheber
Schmidt, Niclas
Beteiligte Personen und Organisationen
Mayer, Joachim
Dittmann, Regina

DOI
10.18154/RWTH-2025-00387
URN
urn:nbn:de:101:1-2503010044533.156502921856
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:24 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Schmidt, Niclas
  • Mayer, Joachim
  • Dittmann, Regina
  • Universitätsbibliothek der RWTH Aachen

Entstanden

  • 2024

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