Error masking in self-testable circuits

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
In: Denburg, Donald (Hrsg.): The changing philosophy of test : proceedings. Piscataway, NJ : IEEE Computer Soc. Pr., 1990. - ISBN 0-8186-2064-1, S. 544-552. URL http://dx.doi.org./10.1109/TEST.1990.114066

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Selbsttest ; Integrierte Schaltung ; Signaturanalyse

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Stuttgart
(wer)
Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
(wann)
2012
Urheber

URN
urn:nbn:de:bsz:93-opus-73162
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:49 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

Entstanden

  • 2012

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