Untersuchungen zur Zuverlässigkeit von Dielektrika in Leistungsbauelementen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Chemnitz, Technische Universität Chemnitz, Dissertation, 2021

Schlagwort
Leistungshalbleiter
MOS-FET
Elektrische Leistung
Leistungselektronik
Bauelement
Dielektrikum
Dielektrikum
Leistungshalbleiter
Elektrischer Durchbruch
IGBT
Diode
MOS-FET

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Chemnitz
(wer)
Technische Universität Chemnitz
(wann)
2021
Urheber
Beteiligte Personen und Organisationen
Lutz, Josef
Bakran, Mark-Matthias

URN
urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa2-757289
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:29 MESZ

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Beteiligte

Entstanden

  • 2021

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