Hochschulschrift | Online-Publikation
Zuverlässigkeitsstudien an Höchstfrequenzbauelementen mit gepulsten Techniken (TLP-Methode)
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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Darmstadt, Techn. Univ., Diss., 2004
- Klassifikation
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Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
- Schlagwort
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Heterobipolartransistor
Hochfrequenztransistor
Zuverlässigkeit
Degradation
Schnelltest
Impulstechnik
Schottky-Diode
Terahertzbereich
Drei-Fünf-Halbleiter
Technischer Fehler
Impulstechnik
Zuverlässigkeit ; Schottky-Diode ; Heterobipolartransistor ; Galliumarsenid ; Drei-Fünf-Halbleiter
- Urheber
- URN
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urn:nbn:de:tuda-tuprints-5327
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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25.03.2025, 13:43 MEZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
- Online-Publikation