Monografie
Zuverlässigkeitsstudien an Höchstfrequenzbauelementen mit gepulsten Techniken (TLP-Methode)
- Language
-
Englisch
- Notes
-
Darmstadt, Techn. Univ., Diss., 2004
- Identifier
-
974146641
Subject
Heterobipolartransistor ; Hochfrequenztransistor ; Zuverlässigkeit ; Degradation ; Schnelltest ; Schottky-Diode ; Terahertzbereich ; Drei-Fünf-Halbleiter ; Technischer Fehler ; Impulstechnik ; Zuverlässigkeit ; Schottky-Diode ; Heterobipolartransistor ; Galliumarsenid ; Drei-Fünf-Halbleiter; Hochschulschrift; Online-Publikation
Contributor
- URN
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
26.01.2023, 1:55 PM CET
Object type
- Monografie
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