Hochschulschrift | Online-Publikation

Zuverlässigkeitsstudien an Höchstfrequenzbauelementen mit gepulsten Techniken (TLP-Methode)

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Darmstadt, Techn. Univ., Diss., 2004

Klassifikation
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Schlagwort
Heterobipolartransistor
Hochfrequenztransistor
Zuverlässigkeit
Degradation
Schnelltest
Impulstechnik
Schottky-Diode
Terahertzbereich
Drei-Fünf-Halbleiter
Technischer Fehler
Impulstechnik
Zuverlässigkeit ; Schottky-Diode ; Heterobipolartransistor ; Galliumarsenid ; Drei-Fünf-Halbleiter

Urheber

URN
urn:nbn:de:tuda-tuprints-5327
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:43 MEZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift
  • Online-Publikation

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