Hochschulschrift

Charakterisierung von Defekten in Silizium nach Bestrahlung mit leichten Ionen

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783853699218
3853699219
Dimensions
21 cm
Extent
119 S.
Language
Deutsch
Notes
graph. Darst.
Zugl.: Linz, Univ., Diss., 1992

Bibliographic citation
Dissertationen der Johannes-Kepler-Universität Linz / Johannes Kepler Universität Linz ; 103

Keyword
Siliciumhalbleiter
Ionenstrahl
Strahlenschaden
Tiefe Störstelle
DLTS

Event
Veröffentlichung
(where)
Wien
(who)
VWGÖ
(when)
1993
Creator
Reisinger, Johann

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Last update
11.06.2025, 1:57 PM CEST

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Object type

  • Hochschulschrift

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  • Reisinger, Johann
  • VWGÖ

Time of origin

  • 1993

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