Digital Twin‐Assisted Degradation Diagnosis and Quantification of NMC Battery Aging Effects During Fast Charging
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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Digital Twin‐Assisted Degradation Diagnosis and Quantification of NMC Battery Aging Effects During Fast Charging ; day:27 ; month:06 ; year:2024 ; extent:16
Advanced energy materials ; (27.06.2024) (gesamt 16)
- Urheber
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Guo, Wendi
Sun, Zhongchao
Guo, Jia
Li, Yaqi
Vilsen, Søren Byg
Stroe, Daniel Ioan
- DOI
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10.1002/aenm.202401644
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2406281404090.777161493385
- Rechteinformation
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Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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14.08.2025, 10:51 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Guo, Wendi
- Sun, Zhongchao
- Guo, Jia
- Li, Yaqi
- Vilsen, Søren Byg
- Stroe, Daniel Ioan