Hochschulschrift

Thermal and thermal-mechanical simulation for the prediction of fatigue processes in packages for power semiconductor devices

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783944640334
Dimensions
21 cm
Extent
XII, 170 S.
Language
Englisch
Notes
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 2014

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
Leistungshalbleiter
IGBT
Halbleitergehäuse
Verbindungstechnik
Halbleitersubstrat
Materialermüdung
Lebensdauer
Thermomechanische Eigenschaft
Temperaturverhalten
Finite-Elemente-Methode
Zuverlässigkeit
Simulation

Event
Veröffentlichung
(where)
Chemnitz
(who)
Univ.-Verl.
(when)
2014
Creator

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Last update
11.06.2025, 1:55 PM CEST

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Object type

  • Hochschulschrift

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Time of origin

  • 2014

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