Mechanistic Understanding of Additive Reductive Degradation and SEI Formation in High‐Voltage NMC811||SiO x ‐Containing Cells via Operando ATR‐FTIR Spectroscopy
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Erschienen in
-
Mechanistic Understanding of Additive Reductive Degradation and SEI Formation in High‐Voltage NMC811||SiO x ‐Containing Cells via Operando ATR‐FTIR Spectroscopy ; day:06 ; month:12 ; year:2023 ; extent:15
Advanced energy materials ; (06.12.2023) (gesamt 15)
- Urheber
-
Weiling, Matthias
Lechtenfeld, Christian
Pfeiffer, Felix
Frankenstein, Lars
Diddens, Diddo
Wang, Jian‐Fen
Nowak, Sascha
Baghernejad, Masoud
- DOI
-
10.1002/aenm.202303568
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2023120714094253805370
- Rechteinformation
-
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
15.08.2025, 07:25 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Weiling, Matthias
- Lechtenfeld, Christian
- Pfeiffer, Felix
- Frankenstein, Lars
- Diddens, Diddo
- Wang, Jian‐Fen
- Nowak, Sascha
- Baghernejad, Masoud