Infrared reflection absorption spectroscopy for characterization of alkylsilane monolayers on silicon nitride surfaces
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
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Online-Ressource
- Language
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Englisch
- Notes
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In: OCM 2013 - Optical Characterization of Materials - Conference Proceedings, Karlsruhe, 6. - 7. März 2013. Ed.: J. Beyerer, F. Puente León, T. Längle, 89-94, KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Karlsruhe
- (who)
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KIT Scientific Publishing
- (when)
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2018
- Creator
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Stammer, Xia
Heißler, Stefan
Wöll, Christof
- DOI
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10.5445/IR/1000034038
- URN
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urn:nbn:de:swb:90-340382
- Rights
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
25.03.2025, 1:47 PM CET
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Stammer, Xia
- Heißler, Stefan
- Wöll, Christof
- KIT Scientific Publishing
Time of origin
- 2018