Infrared reflection absorption spectroscopy for characterization of alkylsilane monolayers on silicon nitride surfaces

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch
Notes
In: OCM 2013 - Optical Characterization of Materials - Conference Proceedings, Karlsruhe, 6. - 7. März 2013. Ed.: J. Beyerer, F. Puente León, T. Längle, 89-94, KIT Scientific Publishing, Karlsruhe

Event
Veröffentlichung
(where)
Karlsruhe
(who)
KIT Scientific Publishing
(when)
2018
Creator
Stammer, Xia
Heißler, Stefan
Wöll, Christof

DOI
10.5445/IR/1000034038
URN
urn:nbn:de:swb:90-340382
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:47 PM CET

Data provider

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Associated

  • Stammer, Xia
  • Heißler, Stefan
  • Wöll, Christof
  • KIT Scientific Publishing

Time of origin

  • 2018

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