Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Karlsruhe, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), Dissertation, 2023
- Klassifikation
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Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
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Ellipsometrie
Oberfläche
Technische Oberfläche
Müller-Matrix
Freiformfläche
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Karlsruhe
- (wer)
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KIT-Bibliothek
- (wann)
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2023
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
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Beyerer, J.
Lemmer, Uli
- DOI
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10.5445/IR/1000158534
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2023060705004012920116
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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25.03.2025, 13:49 MEZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Negara, Christian Emanuel
- Beyerer, J.
- Lemmer, Uli
- KIT-Bibliothek
Entstanden
- 2023