Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Karlsruhe, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), Dissertation, 2023
- Classification
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
-
Ellipsometrie
Oberfläche
Technische Oberfläche
Müller-Matrix
Freiformfläche
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Karlsruhe
- (who)
-
KIT-Bibliothek
- (when)
-
2023
- Creator
- Contributor
- DOI
-
10.5445/IR/1000158534
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2023060705004012920116
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
14.08.2025, 10:50 AM CEST
Data provider
This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
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Associated
- Negara, Christian Emanuel
- Beyerer, J.
- Lemmer, Uli
- Karlsruher Institut für Technologie
- KIT-Bibliothek
Time of origin
- 2023
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