Coupled defect level recombination in the P-N junction

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource, 4 Seiten
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Journal of electrical engineering(62), H. 6, S.355-358 - ISSN 1339-309X
In: De Gruyter Open, Warsaw

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Ilmenau
(wer)
TU Ilmenau
(wann)
2011
Urheber
Racko, Juraj
Mikolášek, Miroslav
Benko, Peter
Gallo, Ondrej
Harmatha, Ladislav
Granzner, Ralf
Schwierz, Frank

DOI
10.2478/v10187-011-0056-5
URN
urn:nbn:de:101:1-2023060503060598163773
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:56 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Racko, Juraj
  • Mikolášek, Miroslav
  • Benko, Peter
  • Gallo, Ondrej
  • Harmatha, Ladislav
  • Granzner, Ralf
  • Schwierz, Frank
  • TU Ilmenau

Entstanden

  • 2011

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