Hochschulschrift

Gate stack engineering for emerging polarization based non-volatile memories

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783744867887
3744867889
Dimensions
21 cm, 229 g
Extent
XII, 137 Seiten
Edition
[1. Auflage]
Language
Englisch
Notes
Illustrationen
Technische Universität Dresden, Dissertation, 2017

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
FRAM
Hafniumdioxid
High-k-Dielektrikum
Dynamisches RAM
Zirkoniumdioxid
Stapel
Schaltverhalten
Physikalischer Effekt
Antiferroelektrizität
Nichtflüchtiger Speicher

Event
Veröffentlichung
(where)
Norderstedt
(who)
BoD Books on Demand
(when)
2017
Creator
Contributor

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Last update
11.03.2025, 12:11 PM CET

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Object type

  • Hochschulschrift

Associated

Time of origin

  • 2017

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