Hochschulschrift
RT-Level power-gating models optimizing dynamic leakage-management
- Weitere Titel
-
Power-Gating Modelle auf RT-Ebene zur Optimierung des dynamischen Leckstrom-Managements
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
Oldenburg, Universität Oldenburg, Diss., 2012
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
Verluststrom ; Transistor ; CMOS
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Oldenburg
- (wer)
-
IBIT - Universitätsbibliothek
- (wann)
-
2012
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
- URN
-
urn:nbn:de:gbv:715-oops-14731
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
25.03.2025, 13:45 MEZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Rosinger, Sven
- Nebel, Wolfgang
- IBIT - Universitätsbibliothek
Entstanden
- 2012
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