Hochschulschrift
RT-Level power-gating models optimizing dynamic leakage-management
- Alternative title
-
Power-Gating Modelle auf RT-Ebene zur Optimierung des dynamischen Leckstrom-Managements
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Englisch
- Notes
-
Oldenburg, Universität Oldenburg, Diss., 2012
- Classification
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
-
Verluststrom ; Transistor ; CMOS
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Oldenburg
- (who)
-
IBIT - Universitätsbibliothek
- (when)
-
2012
- Creator
- Contributor
- URN
-
urn:nbn:de:gbv:715-oops-14731
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
25.03.2025, 1:45 PM CET
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Rosinger, Sven
- Nebel, Wolfgang
- IBIT - Universitätsbibliothek
Time of origin
- 2012