Hochschulschrift
Kapazitätsspektroskopie (DLTS) an verformungsinduzierten Defekten in CdTe
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
97 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Göttingen, Univ., Diss., 1983
- Schlagwort
-
Gitterfehler
Halbleiter
Gitterbaufehler
Halbleiter
- Urheber
-
Gelsdorf, Frank
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:35 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Gelsdorf, Frank
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