Hochschulschrift

Zur Herstellung und elektrischen Charakterisierung von Gate-Oxiden auf Siliziumkarbid

to connected objects

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783826520303
3826520300
Dimensions
21 cm
Extent
158 S.
Edition
Als Ms. gedr.
Language
Deutsch
Notes
graph. Darst.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1996

Keyword
Siliciumcarbid
Gate-Oxid
MOS-FET

Event
Veröffentlichung
(where)
Aachen
(who)
Shaker
(when)
1996
Creator

Table of contents
Rights
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Last update
11.03.2025, 11:53 AM CET

Data provider

This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.

Object type

  • Hochschulschrift

Associated

Time of origin

  • 1996

Other Objects (12)

Charakterisierung von Nanokristallen in Siliziumkarbid mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Hochschulschrift | Online-Publikation

Charakterisierung von Nanokristallen in Siliziumkarbid mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Charakterisierung von Nanokristallen in Siliziumkarbid mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Hochschulschrift

Charakterisierung von Nanokristallen in Siliziumkarbid mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Chemische Gasphasensynthese und Charakterisierung von nanokristallinem Siliziumkarbid-Pulver

Hochschulschrift

Chemische Gasphasensynthese und Charakterisierung von nanokristallinem Siliziumkarbid-Pulver

Röntgendiffraktometrische Charakterisierung von Germanium-Nanokristalliten auf und in Siliziumkarbid

Hochschulschrift | Online-Publikation

Röntgendiffraktometrische Charakterisierung von Germanium-Nanokristalliten auf und in Siliziumkarbid

Röntgendiffraktometrische Charakterisierung von Germanium-Nanokristalliten auf und in Siliziumkarbid

Hochschulschrift

Röntgendiffraktometrische Charakterisierung von Germanium-Nanokristalliten auf und in Siliziumkarbid

Lösungszüchtung von Siliziumkarbid

Hochschulschrift

Lösungszüchtung von Siliziumkarbid

Elektrische Charakterisierung Bauelement-relevanter Defekte in 3C- und 4H-Siliziumkarbid

Hochschulschrift

Elektrische Charakterisierung Bauelement-relevanter Defekte in 3C- und 4H-Siliziumkarbid

Elektrische Charakterisierung Bauelement-relevanter Defekte in 3C- und 4H-Siliziumkarbid

Hochschulschrift

Elektrische Charakterisierung Bauelement-relevanter Defekte in 3C- und 4H-Siliziumkarbid

Elektrolumineszenz von Gate-gesteuerten Silizium und Siliziumkarbid Leistungstransistoren und ihre Nutzbarkeit in Anwendungen der Leistungselektronik

Hochschulschrift

Elektrolumineszenz von Gate-gesteuerten Silizium und Siliziumkarbid Leistungstransistoren und ihre Nutzbarkeit in Anwendungen der Leistungselektronik

Anwendung der Remote-PECVD-Technologie zur gezielten Verringerung von Defekten in Oxiden auf Siliziumkarbid

Hochschulschrift

Anwendung der Remote-PECVD-Technologie zur gezielten Verringerung von Defekten in Oxiden auf Siliziumkarbid

Innenrundschleifen von Siliziumkarbid-Keramik

Hochschulschrift

Innenrundschleifen von Siliziumkarbid-Keramik

Elektronische Ramanstreuung an Siliziumkarbid

Hochschulschrift

Elektronische Ramanstreuung an Siliziumkarbid

Related objects