Optically trapped probes with nanometer-scale tips for femto-Newton force measurement
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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In: Pollard, M.R.; Botchway, S.W.; Chichkov, B.; Freeman, E.; Halsall, R.N.J. et al.: Optically trapped probes with nanometer-scale tips for femto-Newton force measurement. In: New Journal of Physics 12 (2010), 113056. DOI: https://doi.org/10.1088/1367-2630/12/11/113056
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Hannover
- (wer)
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Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
- (wann)
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2010
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
-
Hannover
- (wer)
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Technische Informationsbibliothek (TIB)
- (wann)
-
2010
- Urheber
-
Pollard, M.R.
Botchway, S.W.
Chichkov, Boris
Freeman, E.
Halsall, R.N.J.
Jenkins, D.W.K.
Loader, I.
Ovsianikov, A.
Parker, A.W.
Stevens, R.
Turchetta, R.
Ward, A.D.
Towrie, M.
- DOI
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10.15488/4641
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2020081207500015443295
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
14.08.2025, 10:46 MESZ
Datenpartner
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Beteiligte
- Pollard, M.R.
- Botchway, S.W.
- Chichkov, Boris
- Freeman, E.
- Halsall, R.N.J.
- Jenkins, D.W.K.
- Loader, I.
- Ovsianikov, A.
- Parker, A.W.
- Stevens, R.
- Turchetta, R.
- Ward, A.D.
- Towrie, M.
- Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
- Technische Informationsbibliothek (TIB)
Entstanden
- 2010