Optically trapped probes with nanometer-scale tips for femto-Newton force measurement

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Pollard, M.R.; Botchway, S.W.; Chichkov, B.; Freeman, E.; Halsall, R.N.J. et al.: Optically trapped probes with nanometer-scale tips for femto-Newton force measurement. In: New Journal of Physics 12 (2010), 113056. DOI: https://doi.org/10.1088/1367-2630/12/11/113056

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
(wann)
2010
Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Technische Informationsbibliothek (TIB)
(wann)
2010
Urheber
Pollard, M.R.
Botchway, S.W.
Chichkov, Boris
Freeman, E.
Halsall, R.N.J.
Jenkins, D.W.K.
Loader, I.
Ovsianikov, A.
Parker, A.W.
Stevens, R.
Turchetta, R.
Ward, A.D.
Towrie, M.

DOI
10.15488/4641
URN
urn:nbn:de:101:1-2020081207500015443295
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:46 MESZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Beteiligte

  • Pollard, M.R.
  • Botchway, S.W.
  • Chichkov, Boris
  • Freeman, E.
  • Halsall, R.N.J.
  • Jenkins, D.W.K.
  • Loader, I.
  • Ovsianikov, A.
  • Parker, A.W.
  • Stevens, R.
  • Turchetta, R.
  • Ward, A.D.
  • Towrie, M.
  • Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
  • Technische Informationsbibliothek (TIB)

Entstanden

  • 2010

Ähnliche Objekte (12)