- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783896495419
3896495410
- Maße
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21 cm
- Umfang
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XI, 149 S.
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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Ill., graph. Darst.
Zugl.: Zürich, Eidgenössische Techn. Hochsch., Diss., 2000
- Erschienen in
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Series in microelectronics ; Vol. 91
- Schlagwort
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Heterostruktur
Einelektronen-Tunneleffekt
Transistor
Simulation
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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- Letzte Aktualisierung
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11.06.2025, 14:26 MESZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Scholze, Andreas
- Hartung-Gorre
Entstanden
- 2000