Shallow traps correlated with deep impurities in silicon as obtained by phonon induced conductance

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch
Notes
In: 18th International Conference on the Physics of Semiconductors, Stockholm, Sweden August 11 - 15, 1986. Bd. 2. Singapore, 1987, S. 851-854

Classification
Physik
Keyword
Silicium ; Phononeninduzierte elektrische Leitfähigkeit

Event
Veröffentlichung
(where)
Stuttgart
(who)
Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
(when)
2009
Creator
Burger, Wilfried
Lassmann, Kurt
Holm, Claus
Wagner, Peter

DOI
10.18419/opus-7056
URN
urn:nbn:de:bsz:93-opus-47143
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 10:55 AM CEST

Data provider

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  • Burger, Wilfried
  • Lassmann, Kurt
  • Holm, Claus
  • Wagner, Peter
  • Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart

Time of origin

  • 2009

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