Shallow traps correlated with deep impurities in silicon as obtained by phonon induced conductance
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
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Online-Ressource
- Language
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Englisch
- Notes
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In: 18th International Conference on the Physics of Semiconductors, Stockholm, Sweden August 11 - 15, 1986. Bd. 2. Singapore, 1987, S. 851-854
- Classification
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Physik
- Keyword
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Silicium ; Phononeninduzierte elektrische Leitfähigkeit
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Stuttgart
- (who)
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Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
- (when)
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2009
- Creator
- DOI
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10.18419/opus-7056
- URN
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urn:nbn:de:bsz:93-opus-47143
- Rights
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
14.08.2025, 10:55 AM CEST
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Burger, Wilfried
- Lassmann, Kurt
- Holm, Claus
- Wagner, Peter
- Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
Time of origin
- 2009