Shallow traps correlated with deep impurities in silicon as obtained by phonon induced conductance
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
In: 18th International Conference on the Physics of Semiconductors, Stockholm, Sweden August 11 - 15, 1986. Bd. 2. Singapore, 1987, S. 851-854
- Klassifikation
-
Physik
- Schlagwort
-
Silicium ; Phononeninduzierte elektrische Leitfähigkeit
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Stuttgart
- (wer)
-
Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
- (wann)
-
2009
- Urheber
- DOI
-
10.18419/opus-7056
- URN
-
urn:nbn:de:bsz:93-opus-47143
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
14.08.2025, 10:55 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Burger, Wilfried
- Lassmann, Kurt
- Holm, Claus
- Wagner, Peter
- Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
Entstanden
- 2009