Zerstörungsfreie 3-dimensionale Defektlokaliserung an System-in-Packages (SiP) mittels Lock-in Thermographie
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
118 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
- Classification
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
-
Dreidimensionale Integration
Fehlerortung
Thermografie
Lock-in-Verstärker
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.03.2025, 12:27 PM CET
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Time of origin
- 2012
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