Topographie der elektrischen Eigenschaften der Silizium-Oxid-Grenzschicht und deren technologische Beeinflussung
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
30 cm
- Extent
-
123 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
graph. Darst.
Als Ms. gedr.
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Eggenstein-Leopoldshafen
- (who)
-
Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik Karlsruhe
- (when)
-
1981
- Creator
-
Bernt, Helmut
Werner, Christoph
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 1:49 PM CEST
Data provider
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Associated
- Bernt, Helmut
- Werner, Christoph
- Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik Karlsruhe
Time of origin
- 1981
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