Hochschulschrift

Temperaturabhängigkeit des elektrischen Widerstands von Kupfer bei tiefen Temperaturen: Size-Effekt-induzierte Abweichungen von der Matthiessenschen Regel

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
21 cm
Umfang
131 S. in getr. Zählung
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Münster (Westfalen), Univ., Diss., 1985 (Nicht f.d. Austausch)

Urheber
Kuckhermann, Volker

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:04 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Kuckhermann, Volker

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